0.1초/36점의 고속 스캔·고속 기록
LE5100, LE5200은 시험 및 실험 데이터를 비롯해 변화가 빠른 프로세스의 데이터를 0.1초/36점으로 스캐닝하고, 약 3초/1라인으로 기록할 수 있어 동시성이 뛰어납니다. 각 점에 10색을 임의로 지정하여 기록할 수 있습니다. 높은 조작성을 실현
운전 조작에 필요한 키를 기능적으로 배치했습니다. PC에 의한 설정도 할 수 있습니다. 다양한 데이터 처리 기능
연산 대응 기종을 준비하여 측정 데이터의 연산 처리를 할 수 있습니다. 연산 결과는 아날로그, 디지털 기록이 가능합니다. 유연한 구성
LE5300은 입력 유니트를 최대 5식 접속하여 1초/336점의 수집이 가능합니다. 입력 유닛은 RS-485를 사용하여 총 연장 500m 이내에 최대 5식을 분산 설치할 수 있습니다. 1식당 최대 60점 입력, 12점마다의 유닛 구조로, 용도에 맞추어 유연한 시스템 구축이 가능합니다. 입력은 열전대, 측온 저항체, 직류 전압·전류 등 멀티 레인지입니다 컴팩트 플래시 카드에 대응비
외부 메모리에 대응하여 수집한 데이터의 대용량 데이터 메모리 및 설정 파라미터를 저장할 수 있습니다.
※PC 카드 어댑터＋컴팩트 플래시 카드(CF 카드)를 별매로 준비하고 있습니다. ±0.05% 고정밀
정밀도 정격은 ±0.05%, 분해능 1μV 또는 0.1℃의 고정밀도입니다.
※외부 접속하는 입력 유니트의 정밀도 정격은 ±0.1%입니다. 엔지니어링 포트 준비(USB)
엔지니어링 툴로서 PC를 접속할 수 있어 파라미터의 설정을 할 수 있습니다.
※엔지니어링 소프트를 별매로 준비하고 있습니다. 내노이즈 대책
유도 노이즈에 대해 공통 모드 130dB 이상, 시리즈 모드 50dB 이상의 높은 내노이즈성을 가지고 있습니다. 임펄스 노이즈에 대해서도 대책이 취해지고 있습니다. 통합 패키지 소프트웨어 TRAMS

기종목록

입력 점수	사양
12점	표준형	LE5110-NNN
24점		LE5120-NNN
36점		LE5130-NNN
12점	연산 대응형	LE5210-NN2
24점		LE5220-NN2
36점		LE5230-NN2
12점	데이터 수집 장치	LE5310-1NN
24점		LE5320-1NN
36점		LE5330-1NN

사양

입력 사양

측정점수	LE5100, LE5200···12점, 24점, 36점 LE5300···입력 유니트·KE 시리즈 ※와 조합, 최대 336점
입력 종류	풀 멀티 레인지 직류 전압···±10mV, ±20mV, ±40mV, ±80mV, ±1.25V, 　　　　　　　±2.5V, ±5V, ±10V 직류 전류・・・수신 저항(100Ω, 250Ω) 외장으로 대응 (옵션) 열전대···B, R, S, K, E, J, T, N, PtRh40-PtRh20, NiMo-Ni, 　　　　　　C(WRe5-WRe26), W-WRe26, PlatinelⅡ, U, L 측온 저항체···Pt100, JPt100
측정주기	LE5100, LE5200・・・0.1초/전점 LE5300・・・1초/전점

기록사양

기록 방식	래스터 스캔 방식 10색 와이어 도트 기록
기록 및 기록 색	아날로그 기록 ··· 각 채널마다 색 임의 지정 10색 (적색, 적자, 주황색, 차, 녹색, 황록, 청록, 보라색, 청자, 검정) 디지털 기록, 로깅 기록···검은 메시지 인쇄· ･･흑
기록지	접이식 전폭 318mm, 전체 길이 20m, 유효 기록 폭 250mm(아날로그 기록)

일반사양

정격 전원 전압	100-240V AC(프리 전원), 50/60Hz
최대 소비 전력	최대 100VA
설치 방법	패널 포함
질량	약 15kg(풀 옵션)